Autors: Grethler, M., Marinov, M. B., Klumpp, V. Title: Embedded Machine Learning for Machine Condition Monitoring Keywords: embedded machine learning, microcontroller, intelligent sens References Issue
Copyright Springer |
Вид: публикация в международен форум, публикация в издание с импакт фактор, публикация в реферирано издание, индексирана в Scopus и Web of Science