Autors: Angelov, G. V., Nikolov, D. N., Spasova, M. L., Radonov, R. I.
Title: Analysis of Parameter Variability Depending on FinFET Wafer Location
Keywords: Parameter Variability FinFET Wafer Location

References

    Issue

    43rd International Spring Seminar on Electronics Technology, pp. 1-6, 2020, Slovakia, DOI: 10.1109/ISSE49702.2020

    Вид: пленарен доклад в международен форум, индексирана в Scopus