Е-Публикации
Технически университет - София
Детайли за публикация от базата данни на ТУ - София (Publication Details)
Autors:
Mladenov, V. M., Uhlmann, H., Kirsanov, S.
Title:
Neural Network Approach in Eddy-Current Non-destructive Testing
Keywords:
neural network; eddy-currents; non-destructive testing
References
Issue
Electronic Circuits and Systems Conference (ECS'97), pp. 289-292, 1997, Slovakia,
Вид:
публикация в международен форум