Autors: Grethler, M., Marinov, M. B., Klumpp, V. Title: Embedded Machine Learning for Machine Condition Monitoring Keywords: embedded machine learning, microcontroller, intelligent sens References Issue
Copyright Springer |
Цитирания (Citation/s):
1. Piardi L., de Oliveira A.S., Costa P., Leitao P., Collaborative fault tolerance for cyber–physical systems: The detection stage, 2025, Computers in Industry, issue 0, vol. 166, DOI 10.1016/j.compind.2025.104253, issn 01663615 - 2025 - в издания, индексирани в Scopus
Вид: публикация в международен форум, публикация в издание с импакт фактор, публикация в реферирано издание, индексирана в Scopus